Недостатки цифровых устройств по мифорелисту::: Эпизод 3.

 

Hа форуме в одном из постов мифорелиста возмутили некоторые фразы в моих репликах.

        Обратимся к очередному труду электрика (он же мифорелист) и приведем цитату из него:

       

«В микропроцессорных реле практически все электронные элементы находятся под воздействием приложенного напряжения питания, а часть из них – и под воздействием входного тока или напряжения. Часть элементов постоянно находится в режиме генерации сигналов. Некоторые компоненты (например, электролитические конденсаторы) усиленно стареют при постоянном воздействии рабочего напряжения»

 

        Что может вызвать такая фраза? При снисходительном отношении к автору этого опуса – усмешку. При серьёзном отношении к тексту – желание оградить читателя от сочинителя таких текстов.

        Полностью понять и поддержать же сочувствие автора «тяжелой» судьбе «электронных элементов, находящихся под воздействием приложенного напряжения» может каждый защитник животных от жестокого обращения.

                Какой же вывод делает автор из приведенной выше цитаты? А вот какой:

 

«Не удивительно поэтому, что исследования, выполненные исследовательским отделом Israel Electric Corporation [2], привели к выводу о том, что надежность микропроцессорных реле ниже, чем электромеханических и полупроводниковых статических реле.»

 

При этом ни слова о том, где же существуют такие электрические схемы, в которых электронные элементы не находятся «под воздействием приложенного напряжения»? Автор держит эту тайну под семью замками и не торопится сообщить о них читателям.

        После прочтения двух отрывков возникает вполне резонный вопрос, чем же так не понравилась написанная в одной из реплик фраза:

-«серьезность» изложения таких вопросов лучше всего характеризует технический уровень автора... .

 

Вот еще один отрывок из труда автора:

 

«Компоненты микропроцессорных реле выходят из строя чаще, чем элементы реле других видов.»

 

В этой фразе содержится претензия на необычайное открытие в области надежности, так как из неё следует, что интенсивность отказов зависит не от режима работы элемента, а от того, в какой схеме он работает – в микропроцессорном реле или же в  реле другого вида.

Абсолютно уверен, что такое открытие заслуживает Ig Nobel Prize.

Прошу считать эту реплику заявкой на эту премию дважды профессору и владельцу отличной японской машины.