Главу 1 сенсационной книги[1] завершает раздел 1.6 с эпическим названием «Для оценки надежности микропроцессорных устройств релейной защиты нужен новый критерий».

        Прежде всего, обратим  внимания на повторы одного и  того же материала. Начав первый абзац раздела  с критической оценки критерия «наработка на отказ»(см. СТА 2010-3), более того сформулировав вопрос: «Но насколько оправдан выбор именного этого критерия?», в третьем абзаце мифорелист пишет: «Одним из важнейших показателей надежности является « наработка на отказ».

      Сразу же после этого он безо всяких на то оснований делает тождественными два разных критерия, то есть по мифорелисту оказывается верным такое - MTBF ≡ наработка на отказ.

        Далее в разделе следуют рассуждения о показателе, используемом в «западной технической литературе» - средняя наработка до отказа (замены) сменного элемента. О некорректности такого «показателя» можно прочесть в блоге надежность сменного элемента и книге [1].

        Затем мифорелист с помощью несложных арифметических действий получает нужное ему для дальнейшего  манипулирования число 1 млн. ч.

 

 

        При этом совершенно не важно, что для «арифметических действий» нужна математическая модель цифрового устройства. Но это не смущает мифорелиста. Его модель предельно проста – умножил или раздели одну цифру на другую и готово!

        Дальше – больше. Мифорелист приводит примеры из «параллельной» реальности, где есть конденсаторы известных Японских (именно так, с большой буквы!) производителей и керамические конденсаторы, транзисторные оптроны  и многие другие элементы.

        Что самое важное в этих примерах? То, что все производители цифровых устройств не умеют выбирать конденсаторы, ни электролитические, ни «опрессованные пластмассой»! Беда, да и только, с этими разработчиками!

        Поэтому в примерах приведены бездоказательные фразы о «массовых отказах» логических входов, отказах дисковых конденсаторов из-за «миграции ионов серебра с одной поверхности диска на другую». Таких «сенсаций» в этом разделе не счесть, но все эти страшилки уже были опубликованы на портале Еlec.ru - Для оценки надежности микропроцессорных устройств релейной защиты нужен новый критерий и рецензия на них также опубликована.

        На самом деле, картина отказов элементов в  цифровых устройствах совсем иная, о чем можно прочесть  в работах Надежность блоков для КТП 6(10)/0,4 кВ, Результаты 15-летней эксплуатации цифровых устройств релейной защиты , Замены комплектующих элементов в цифровых устройств релейной защиты , Надежность цифровых устройств в цифрах и диаграммах и многих других.

        Между делом, мифорелист в этой главе делает ещё одно сенсационное открытие, открывая для МУРЗ и мурсиков  два неправильных (???) состояния: и несрабатывание и Ложное срабатывание.

        Но читателю остаётся неизвестным, что же кроется за этими «неправильными» состояниями и какие такие состояния будут правильными с точки зрения мифорелиста!.

        Заключительный аккорд в этом разделе – предложение «нового» показателя надежности для МУРЗ и мурсиков  - «Гамма-процентной наработки до отказа». «Новизна» этого показателя более, чем сомнительна, так как он давно включен наравне с другими показателями в стандарт ГОСТ 27.002-89.

        Но самое важное в другом. Все показатели надежности взаимосвязаны и зная одни  из них, можно найти другие. Графический способ определения

«Гамма-процентной наработки до отказа» по результатам оценки наработки на отказ приведен на рисунке в статье, на которую дана гиперссылка.

        Что же касается одного из «важных положений», завершающих раздел, материалы по реальным отказам цифровых устройств приведены в книге [2] и публикациях, приведенных в Библиографии работ по надежности цифровых устройств релейной защиты.

        Завершает главу 1 список литературы из 17 названий. Из них 7 принадлежат перу мифорелиста, а оценку работам других специалистов, указанных в этом списке он дал сам на сайте www.energoboard.ru - И все-таки цифровая?, О докладе: «Основные требования к устройствам релейной защиты и управления, предназначенным к применению в современных энергосистемах России» , Об оценке эффективности и надежности релейной защиты, Сенсационные «открытия» в области релейной защиты .

        Выводы делайте сами. Что напишет мифорелист в ответ на эту рецензию уже известно всем, кто читает мои блоги на портале «Всё о  релейной защите».

       

Литература

1. Захаров О.Г. Надежность цифровых устройств релейной защиты. Показатели. Требования. Оценки. М.: Инфра-инженерия, 2014, 128 с. (см. также Разрушение мифов).